The ThermoSpot bench top temperature forcing systems provide a precisely controlled, conductive thermal source for IC/Device Under Test (DUT) characterization, test, and failure analysis
에어 챔버용 T-캡, 단열 슈라우드 및 열 차단 매트
IC, MEMS, 광 트랜시버 등 다양한 부품과 소재의 온도 테스트 및 열 컨디셔닝 시 정밀한 온도 제어와 고속 온도 전환 성능을 극대화합니다.
아울러 결빙 없는 균일한 챔버 환경을 구현하여 안정적인 저온 시험을 가능하게 합니다.