에어 챔버용 T-캡, 단열 슈라우드 및 열 차단 매트
IC, MEMS, 광 트랜시버 등 다양한 부품과 소재의 온도 테스트 및 열 컨디셔닝 시 정밀한 온도 제어와 고속 온도 전환 성능을 극대화합니다.
아울러 결빙 없는 균일한 챔버 환경을 구현하여 안정적인 저온 시험을 가능하게 합니다.
상세정보
에어 챔버용 T-캡, 단열 슈라우드 및 열 차단 매트
본 시스템은 IC,MEMS,광 트랜시버 등의 정밀 온도 테스트 및 컨디셔닝에 최적화된 온도로 사이클링 성능을 발휘합니다.
또한 내부 결빙 현상(Frost-free)을 방지하여 균일하고 안정된 저온 테스트 환경을 제공합니다.